Rasterelektronenmikroskopie
Das Rasterelektronenmikroskop des Typs Inspect S wird vom Institut für Paläontologie in Zusammenarbeit mit den erdwissenschaftlichen Subeinheiten der FGGA betrieben.
Die Einrichtung für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen umfasst ein konventionelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (FEI Inspect S-50) und ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FEI Quanta 3D FEG). Die REM-Einrichtungen werden von den erdwissenschaftlichen Subeinheiten der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie und dem Zentrum für Mikrobiologie und Umweltsystemwissenschaft gemeinsam genutzt.
FEI Inspect S
Das Inspect S-50 ist unser wesentliches Werkzeug für standardmäßige Elektronenmikroskopie, welches eine schnelle Charakterisierung von Mineralen, Fossilien und Gesteinsoberflächen erlaubt. Das Gerät ist mit Sekundärelektronen-Detektoren für den Einsatz im Hoch- und Niedrigvakuum ausgestattet, sowie mit einem Rückstreuelektronen-Detektor, einem energiedispersiven Röntgenspektrometer für semi-quantitative mikrochemische Analysen (EDAX Apollo XV) und einem Kathodolumineszenz-Detektor (Gatan ChromaCL).
Ansprechperson für weitere Informationen zu dem FEI Inspect S Instrument: