Rasterelektronenmikroskopie

Ansicht des Rasterelektronenmikroskops

Die Einrichtung für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen umfasst ein konventionelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (FEI Inspect S-50) und ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FEI Quanta 3D FEG). Die REM-Einrichtungen werden von den fünf erdwissenschaftlichen Subeinheiten der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie gemeinsam genutzt.

FEI Inspect S

Das Inspect S-50 ist unser wesentliches Werkzeug für standardmäßige  Elektronenmikroskopie, welches eine schnelle Charakterisierung von Mineralen, Fossilien und Gesteinsoberflächen erlaubt. Das Gerät ist mit Sekundärelektronen-Detektoren für den Einsatz im Hoch- und Niedrigvakuum ausgestattet, sowie mit einem Rückstreuelektronen-Detektor, einem energiedispersiven  Röntgenspektrometer für semi-quantitative mikrochemische Analysen (EDAX Apollo XV) und einem Kathodolumineszenz-Detektor (Gatan MonoCL).

Ansprechperson für weitere Informationen zu dem FEI Inspect S Instrument: